PRODUTOS Microscopia eletrònica
O SEM para desktop da próxima geração
Um verdadeiro microscópio eletrónico de varrimento analítico de bancada.
A NANOS oferece imagens SEM com baixo custo de propriedade para imagens de alta resolução e espectroscopia de energia dispersiva (EDS) integrada para análise elementar rápida. Foi concebido para uma fácil instalação, facilidade de utilização e fácil manutenção.
Detectores
O NANOS vem com um detetor de eletrões secundário (SED) e um detetor de eletrões retroespalhados (BSD) como padrão. O BSD é um detetor de 4 quadrantes com segmentos independentes totalmente controláveis. Ao utilizar os segmentos em diferentes combinações, fornece detalhes topográficos ou composicionais da amostra, bem como imagens com “efeito de sombra” ao destacar a superfície em múltiplas direções. Um detetor de desvio de silício (SDD) de raios X dispersivos de energia (EDX) está instalado para análise elementar.
Análise elementar
O NANOS está equipado com um detetor de desvio de silício (SDD) de raios X dispersivos de energia (EDX) totalmente integrado. O operador pode selecionar a análise de pontos EDX ou ativar o mapeamento elementar.
Estágio eucêntrico
O estágio eucêntrico do NANOS é verdadeiramente único. Vem de série com o NANOS. Os movimentos XY motorizados podem ser controlados através da interface do utilizador. A inclinação da amostra no modo SEM pode ser realizada rodando manualmente a platina. Graças ao desenho eucêntrico, a amostra permanece focada sem a necessidade de alterações intermédias na configuração do SEM. A interface do utilizador indica o ângulo exato de inclinação. As amostras podem ser inclinadas até um ângulo de 55°.
CONFIGURAÇÃO: O NANOS é entregue com BSD, SED, EDS integrado e estágio de inclinação eucêntrico.
DESIGN – O NANOS apresenta um design moderno e robusto e é concebido com materiais e componentes de última geração.
MANUTENÇÃO – O design do NANOS permite um fácil acesso para manutenção e atualizações que podem ser realizadas nas suas instalações.
ROBUSTO – Com uma excelente estabilidade e um tamanho reduzido, a arquitetura do NANOS garante que pode ser utilizado em ambientes não laboratoriais.
FACILIDADE DE UTILIZAÇÃO – No modo BASIC, o NANOS produzirá resultados num curto espaço de tempo, independentemente da experiência. O modo AVANÇADO oferece mais recursos para análise detalhada.
CUSTO DE PROPRIEDADE – O NANOS foi concebido para manter o custo de propriedade mais baixo de qualquer SEM de desktop atualmente disponível.
Interface do utilizador
Os microscópios eletrónicos de varrimento (SEM) são baseados em imagens e o NANOS coloca a imagem no centro do ecrã. O NANOS é fácil de configurar e tem uma interface intuitiva e requer um treino mínimo para iniciar a geração de imagens de amostras. O software oferece o modo básico para aqueles que necessitam de um arranque rápido e fácil para imagens SEM e o modo avançado para análise detalhada de amostras. O utilizador tem o controlo total do NANOS através do rato e teclado sem fios e pode ser configurado para operar remotamente utilizando um iPad ou dispositivo semelhante. A câmara de navegação (NavCam) está sempre ativada, garantindo que o utilizador sabe exatamente onde se encontra no display.
Câmara de navegação
Quando a amostra é introduzida, é criada uma imagem óptica da mesma que serve de imagem de navegação. Fornece uma imagem de toda a amostra. Através da interface do utilizador, o utilizador pode navegar facilmente pela amostra. Isto dá-lhe um controlo total e, mesmo com grande ampliação, sabe sempre para onde está a olhar.
O baixo vácuo reduz o carregamento da amostra
As amostras são observadas em SEM de alto vácuo (SEM convencional) ou em baixo vácuo (SEM de baixo vácuo). O baixo vácuo é utilizado para reduzir ou eliminar os efeitos do carregamento da amostra. Quando uma amostra não condutora é observada num estado de alto vácuo, os eletrões acumulam-se na superfície da amostra e provocam um fenómeno de carga. O NANOS está equipado com um modo de baixo vácuo para superar isto.
Compare facilmente as suas capturas de SE e BSE
Fonte de eletrões
A fonte de eletrões termiónicos NANOS é um filamento de tungsténio controlado por lentes de bobina eletromagnética e defletores eletrostáticos. Com a definição “eco” opcional, a vida útil do filamento pode ser prolongada para centenas de horas e ainda assim produzir imagens de alta resolução. Qualquer utilizador pode substituir a fonte de eletrões por uma ferramenta de alinhamento simples, garantindo um tempo de inatividade mínimo. Não há necessidade de esperar que um engenheiro de assistência substitua um fornecimento caro.
Tensões aceleradas
A tensão de aceleração ajustável entre 1 kV e 20 kV garante uma análise e mapeamento EDS de alta velocidade para identificar elementos nas suas amostras.
Manutenção
O NANOS foi desenvolvido tendo o serviço como eixo central do seu design. Os painéis amovíveis, os componentes modulares, um único painel de controlo e poucas peças móveis reduzem ao mínimo os requisitos de manutenção. O utilizador pode realizar a maioria das tarefas. O que é único no NANOS é que não existem peças móveis dentro da câmara de vácuo. Graças a este design inteligente, o risco de contaminação foi eliminado.
Carateristicas principais:
MODO DE IMAGEN | Óptico | Óptico 2 y 12x Zoom digital hasta 60x |
microscopio electrónico de barrido | Rango de aumento: 100 – 200.000x | |
Resolución | <8 nm | |
ILUMINACIÓN | Óptico | Campo brillante |
microscopio electrónico de barrido | Fuente termoiónica optimizada (tungsteno) | |
Voltajes de aceleración | Predeterminado: 1, 2, 5, 7, 10, 15 y 20 kV | |
DETECTOR | Detector de electrones secundarios (SED) | |
Detector de electrones retrodispersados (BSD) – 4 cuadrantes | ||
Detector de espectroscopia de energía dispersiva (EDS) integrado | ||
CÁMARA DE NAVEGACIÓN ÓPTICA LIGERA | Color | |
FORMATOS DE IMÁGENES | JPEG, TIFF, PNG, BMP | |
INTERFAZ DE USUARIO | Monitor con control a través de un ratón y un teclado inalámbricos. | |
Control remoto y diagnóstico habilitados | ||
ALMACENAMIENTO DE DATOS | Red, USB, estación de trabajo | |
ETAPA DE MUESTRA | Platina de inclinación eucéntrica (+15 hasta -40 ̊) manual | |
Motorizado controlado por ordenador X, Y: 25 x 25 mm | ||
TAMAÑO DE MUESTRA | Hasta 45 mm de diámetro | |
Hasta 14 mm de altura (opcional 45 mm) | ||
ESPECIFICACIONES EDS | Tipo de detector | Detector de deriva de silicio (SDD), refrigerado termoeléctricamente |
Área activa del detector | 30 mm2 | |
Resolución energética | @ Mn Kα < 133 eV | |
Tasa máxima de recuento de entradas | 300.000 cps | |
Integración de hardware | SDD totalmente integrado, procesador de pulsos y generador de escaneo | |
SOFTWARE | Instalado en PC con Windows y controlado a través de la interfaz de usuario | |
Análisis de puntos EDS, análisis de líneas y mapeo | ||
Funciones de exportación | ||
ESPECIFICACIONES DEL SISTEMA | Huella | 280 (ancho) x 470 (profundidad) x 550 (alto) mm |
Peso | 62 kilos | |
Zapatillas | Bomba molecular Pfeiffer Turbo y bomba de prevacío de membrana sin aceite | |
Modos de vacío | Modo SEM de alto vacío (estándar) Modo de bajo vacío (estándar): vacío de 40 Pascal para una carga reducida | |
Niveles de vacío controlados por motor a través de la interfaz de usuario | ||
Puesto de trabajo | PC todo en uno preconfigurada con monitor de 27”. Software de análisis de EDS e imágenes SEM instalado. |
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