microscopia eletrónica
A TESCAN é um dos líderes mundiais no design, fabrico e distribuição de microscópios eletrónicos de varrimento (SEM) e estações de trabalho de microscopia eletrónica de varrimento combinada com feixe de iões focados (FIB-SEM) e presta serviços técnicos autorizados, especialistas em aplicações e laboratórios de demonstração para os seus microscópios
A TESCAN é um produtor checo de microscópios eletrónicos. A empresa foi fundada em 1991 por funcionários de I&D e engenheiros da TESLA (empresa que fabrica TEMs desde 1951) com o objetivo de continuar a produção de microscópios eletrónicos em Brno.
A TESCAN sempre foi uma grande inovadora no mercado SEM.
Em 1991 introduziu o primeiro SEM controlado por PC, em 2014 introduziu o primeiro SEM combinado com Raman, o primeiro FIB combinado com TOF-SIMs, em 2017 o primeiro FIB de plasma. No final de 2022, a TESCAN lança o seu primeiro microscópio de transmissão, o modelo TENSOR, com as mais poderosas e modernas tecnologias produzindo o primeiro STEM 4D analítico que integra automaticamente a precessão, a difração de raios X e a deteção direta de eletrões para fornecer a morfologia, química e estrutura das amostras de forma automática e com uma facilidade de utilização sem precedentes.
Estas e outras inovações reservaram à TESCAN o seu lugar entre os produtores de renome mundial. Na TESCAN são produzidos cerca de 300 microscópios por ano e tem um parque instalado de mais de 4.000 dispositivos instalados. Os equipamentos TESCAN são famosos pela sua robustez, fiabilidade, inovação e pela excelente relação qualidade-preço de todos os seus modelos.
Na Zeppelin Lusitânia trabalhamos todos os dias para manter os padrões de qualidade e pós-venda que a TESCAN exige e oferece aos seus clientes em todo o mundo.
Categorias de produtos TESCAN
Microscópios de bancada/compactos TT/SEM
Se o que procura é um microscópio económico, de operação rápida e fácil e ao mesmo tempo tão intuitivo que possa ser manuseado por pessoal não especializado após alguns minutos de formação, nós podemos ajudá-lo.
Microscópios de rotina e microanálise
Microscópio eletrónico clássico, robusto, fiável, de fácil manuseamento para o seu trabalho de rotina e normalmente com microanálise EDX, o TESCAN VEGA com o seu filamento de Tungsténio/Wolfram é uma excelente opção.
Microscópios UHR FESEM ultra alta definição
Os materiais mais avançados e a nanotecnologia requerem microscopia moderna para resolver problemas onde as técnicas de imagem tradicionais são menos eficazes.
Microscópios de feixe de iões com duplo foco FIB
Microscópios FIB; Como são popularmente conhecidos, combinam a coluna com feixe de eletrões com uma segunda coluna com feixe de iões. TESCAN com mais de 300 FIBs instalados, é pioneiro no campo da microscopia iónica focada.
Microscopios TEM
A microscopia eletrónica de transmissão (TEM) é uma técnica para a obtenção de imagens de alta resolução de amostras finas. A resolução do TEM é superior à do microscópio eletrónico de varrimento e é normalmente da ordem de 0,2 nm.
EDX - Espectrometria de Raios X
A espectroscopia de raios X por dispersão de energia (EDX) e a espectroscopia de raios X por dispersão de comprimento de onda (WDX) são duas dessas técnicas em que são analisados os raios X característicos gerados a partir da interação do feixe de eletrões.
Tomografia de raios X MICRO CT
A tomografia computorizada ou TC é uma modalidade de imagem não destrutiva que fornece muito mais do que testes não destrutivos (END) de materiais e componentes.
Microscópios RISE RAMAN SEM
A microscopia RISE é uma técnica de microscopia correlativa, desenvolvida em 2015 pela TESCAN e pela WITEC, que combina a microscopia Raman focal com a microscopia SEM (RISE) num sistema de microscópio integrado.
Microscópios analisadores minerais
O analisador automático TESCAN TIMA (Tescan Integrated Mineral Analizer) fornece uma solução versátil para petrógrafos e geocientistas, permitindo-lhes realizar grande parte do seu trabalho analítico nesta solução única.
Microscópios TOF SIMS
A espectrometria de massa de iões secundários por tempo de voo (TOF-SIMS) é uma técnica analítica altamente sensível que fornece a caracterização química das superfícies dos materiais.
Reconstrução 3D e tomografia
Existem três formas de realizar uma tomografia 3D com um microscópio eletrónico, duas são utilizando o próprio SEM diretamente e a terceira é combiná-lo sequencialmente com um tomógrafo de alta resolução ou micro-TC.
Consulte toda a gama de produtos de microscopia electrónica TESCAN e conheça o enorme âmbito de aplicações onde esta tecnologia pode ser utilizada.
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