PRODUTOS Microscopia eletrònica
TESCAN SEM/STEM
A microscopia eletrónica de varrimento por transmissão (STEM) é uma combinação de SEM e TEM: ou seja, uma imagem de transmissão é obtida através de um método de varrimento. Um TEM pode ser modificado num STEM adicionando um sistema que varre um feixe focado através da amostra para formar a imagem. Um STEM muito básico também pode ser obtido instalando um detetor de transmissão num SEM.
Tal como o TEM, o STEM requer amostras muito finas e analisa principalmente os eletrões do feixe transmitidos pela amostra. Uma das suas principais vantagens em relação ao TEM é que permite a utilização de outros sinais que não podem ser correlacionados espacialmente no TEM.
Detetor HADF R_STEM e porta-amostras múltiplas STEM.
Neste caso estamos a falar da possibilidade de ter uma imagem STEM num SEM. Seria a forma mais simples possível de STEM, mas pode ser muito útil para completarmos o resto das imagens SEM como uma imagem de transmissão
Estes detetores em transmissão serão muito bons para monitorizarmos e verificarmos o estado das lamelas que preparámos com um FIB sem ter de interromper o processo para as observar num TEM.
En el SEM / STEM trabajamos a bajas tensiones de aceleración pero podemos lograr resoluciones subnanométricas (0,6 nm), lo que lo convierte en una alternativa muy eficiente desde el punto de vista económico a un TEM / STEM.
Características:
• Observação de múltiplas amostras sem quebrar o vácuo da câmara.
• Aquisição simultânea de sinais de campo claro (BF), campo escuro (DF) e campo escuro de alto ângulo (HADF) que fornecem informações valiosas, como o contraste de orientação de difração de Bragg e o contraste de materiais.
• Aumentar e diminuir a altura da amostra em relação ao detetor para obter as melhores condições de imagem.
• Incline a amostra independentemente do detetor.
• Melhoria da geometria dos porta-amostras para análise EDX.
