PRODUTOS TOMOGRAFIA
TESCAN AMBER 2
Advanced Ga+ FIB-SEM for Automated
TEM Sample Preparation and Nanoprotoyping
TESCAN AMBER 2 is a fully automated Ga FIB-SEM for routine TEM sample preparation, nanoscale characterization, and prototyping.
Offering precision and ease of use, it delivers exceptionally high FIB image quality even at low accelerating voltages. The field-free BrightBeam™ SEM column ensures high contrast nanoscale imaging and exceptional sample versatility.
Whether preparing TEM samples, creating nanostructures, or characterizing nanomaterials, AMBER 2 is the perfect tool for a variety of use cases.
Imagem que mostra a amostra TEM preparada automaticamente em menos de 1h utilizando o TEM AutoPrep ProTM
Preparação automatizada do TEM
Prepare automaticamente amostras TEM de alta qualidade com danos mínimos.
Preparação avançada de Lamella TEM
Alcançar uma excelente qualidade, geometria ideal e danos de amorfização mínima nas amostras de TEM.
FIB
Nano-prootipagem
Fabrico, crie ou modifique os materiais em dispositivos funcionais utilizando um único instrumento FIB-SEM.
SEM avançado Métodos de contraste
Melhorar a sensibilidade da superfície e detetar diferentes fases de forma mais eficaz.
Litografia de feixe de eletrões
Protótipos funcionais precisos de artesanato em escalas de nano e micro com litografia de feixe electrónico TESCAN e Blanker de feixe rápido.
Amigável
Obtenha dados de alta qualidade sem necessitar de experiência extensiva FIB-SEM
Principais benefícios do AMBER 2
Automatize o seu fluxo de trabalho de preparação de amostras TEM com TESCAN AMBER 2, um sistema Ga FIB-SEM sem campo que oferece uma solução fácil e fiável para a preparação automatizada e versátil de amostras TEM.
Explore novas possibilidades de TEM preparando amostras invertidas ou planares e transferindo-as para a grelha com um nanomanipulador para uma orientação precisa de características.
Fabricar, criar ou modificar dispositivos funcionais com capacidades AMBER 2 para litografia de feixe de eletrões, prototipagem do feixe de iões, FEBID ou FIBID, aumentando a flexibilidade e a criatividade do design.
Simplificar a operação FIB-SEM com o software TESCAN Essence™, automatizar os alinhamentos SEM e FIB e fornecer proteção de colisão em estágio avançado para todos os níveis de competências.
Execute imagens de ultra-alta resolução e nanoanálise
em vários materiais com a coluna UHR-SEM sem campo BrightBeam™ e a coluna de alta corrente Orage™ FIB, garantindo um excelente desempenho e versatilidade.
Obtenha insights de materiais mais profundos com o sistema de deteção multimodal da AMBER, permitindo a aquisição simultânea de vários sinais.
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Descarregue o catálogo Tescan AMBER 2
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