PRODUTOS Microscopia eletrònica
Microscópios TEM
A microscopia eletrónica de transmissão (TEM) é uma técnica para a obtenção de imagens de alta resolução de amostras finas.
Um feixe de eletrões de alta energia passa pela amostra e é depois focado para formar uma imagem. Quando as amostras têm menos de um mícron de espessura, podemos utilizar um microscópio eletrónico de transmissão ou TEM para a geração de imagens, mas se quisermos fazer difração de eletrões, a espessura deve ser inferior a 100 nm.
A resolução do TEM é superior à do microscópio eletrónico de varrimento e é normalmente da ordem de 0,2 nm.
O comprimento de onda do eletrão está relacionado com a tensão de aceleração, pelo que, excluindo o resto dos parâmetros (por exemplo, volume de interação do e-), a resolução de um microscópio eletrónico será maior a uma tensão de aceleração mais elevada. Os SEMs chegam aos 30 kV, enquanto que temos TEMs de 120 kV, 200 kV e 400 kV. Tensões de aceleração mais elevadas proporcionam maior resolução, mas menos contraste. Os TEMs permitem-nos alcançar as resoluções mais elevadas e ver as configurações atómicas das nanoestruturas.
A TOMOGRAFIA TEM de uma tomografia electrónica COVID-19 pode ser obtida gravando imagens numa série de projecções diferentes da amostra e depois recombinando matematicamente essas imagens para formar uma representação tridimensional da amostra.
Campo claro: Regiões mais espessas da amostra ou regiões com maior número atómico aparecerão escuras, enquanto as regiões sem amostra no percurso do feixe aparecerão brilhantes: Morfologia.
Contraste de difração: Como os eletrões têm propriedades de onda, podem ser difractados por amostras cristalinas. Os padrões de difração resultantes fornecem informação sobre a estrutura cristalina da amostra. O contraste é formado pelos eletrões incidentes espalhados elasticamente pelos núcleos. A imagem obtida fornece informação sobre a orientação, disposição dos átomos e as fases presentes na área examinada.
Cristalografia: O contraste de difração no TEM dá-nos informação sobre:
1) As fases e os tipos de estrutura cristalina.
2) Simetria cristalina e grupo espacial.
3) Relações de orientação entre fases.
4) Determinar as direções de crescimento, coerência de interface.
5) Identificação de defeitos, i.e., geminação, SF, deslocamentos,
6) Comportamento de ordenação de estruturas cristalinas e preferências de ocupação de sítio…
Sinal de perda de energia eletrónica: o contraste é formado pelo espalhamento inelástico dos eletrões incidentes. Fornecem informações de composição e estado sobre as ligações atómicas. Estado químico REDOX.
Soluções SEM/STEM TESCAN
TESCAN TENSOR
O primeiro 4D-STEM quase UHV integrado, assistido por precessão e analítico.