PRODUTOS Microscopia eletrÔnica

Resolução máxima para resolver características de tamanho nanométrico.
A coluna SEM Triglav™ patenteada com tripla lente TriLens™ patenteada oferece a melhor versatilidade da sua classe. A extraordinária resolução proporcionada pela lente de ultra-alta resolução é ideal para a caracterização morfológica detalhada, permitindo aos investigadores resolver características de tamanho nanométrico.

Uma lente analítica de alta resolução completamente nova permite imagens sem aplicação de campos eletromagnéticos, ideais para a observação de amostras magnéticas e utilizadas para trabalhos analíticos (EDS, EBSD). Uma terceira lente objetiva permite uma variedade de modos de visualização e otimização do tamanho e formato do ponto para melhorar a microanálise.

Diferentes contrastes de imagem para máxima compreensão da amostra.
A deteção tripla BSE TriBE™ permite a recolha seletiva de sinais em ângulo e energia. Os detetores de eletrões retroespalhados de meio ângulo (ma-BSD) e o detetor BSD In-Beam estão localizados dentro da coluna e detetam eletrões retroespalhados de meio ângulo e axiais, enquanto o detetor BSD na câmara deteta eletrões retroespalhados a um ângulo grande.

A deteção de eletrões secundários triplos SE TriSE™ captura o sinal dos secundários de forma ideal em todos os modos de trabalho. O detetor SE In-Beam localizado no interior da coluna permite a deteção de eletrões a distâncias de trabalho muito curtas. O detetor SE no modo de desaceleração do feixe (SE BDM) fornece a máxima resolução em BDM, enquanto o detetor SE na câmara oferece um excelente contraste topográfico.

Capacidades de imagem melhoradas e expandidas.
O sistema de deteção de feixe de coluna Triglav™ de última geração foi otimizado, resultando numa melhoria de mais de três vezes na eficiência de deteção de sinal. Além disso, as capacidades de deteção foram alargadas e é agora possível detetar sinais axiais de BSE filtrados por gamas de energia. Isto torna possível a digitalização com novos contrastes para proporcionar uma melhor sensibilidade superficial através da recolha seletiva de BSEs de baixa perda.

As melhores condições para microanálise garantidas.
A nova geração do Triglav™ também vem com otimização adaptativa do ponto de iluminação, resultando numa melhor resolução a altas correntes de feixe de eletrões. Tal característica é benéfica para técnicas analíticas rápidas como EDS, WDS e EBSD. Além disso, a pistola Schottky é capaz de gerar correntes de feixe até 400 nA com mudanças rápidas de energia do feixe, garantindo um excelente sinal para todas as aplicações microanalíticas.

As aplicações complexas são agora mais fáceis do que nunca.
A nova plataforma de software TESCAN Essence™ é uma interface multiutilizador simplificada com layout gráfico que permite um acesso rápido e fácil às principais funções. Esta interface fácil de utilizar pode ser personalizada para melhor se adequar a aplicações específicas e ao nível de habilidade e preferência do utilizador. Uma vasta gama de módulos de software, assistentes e receitas tornam todas as aplicações SEM uma experiência simples e fácil para utilizadores experientes e novos, aumentando a produtividade e ajudando a aumentar o desempenho no laboratório.