PRODUTOS Microscopia eletrònica
TESCAN CLARA
MICROSCOPIA ELECTRÓNICA DE VARREDURA UHR SEM DE ULTRA ALTA RESOLUÇÃO COM TECNOLOGIA BRIGHTBEAM
O TESCAN CLARA é um FESEM concebido para satisfazer as mais exigentes necessidades de qualidade de imagem e microanálise de amostras que surgem rotineiramente em diferentes campos de investigação e tecnologia. Os investigadores podem agora usufruir de todos os benefícios oferecidos pela resolução ultra-elevada sem campo gerada pela coluna BrightBeam™.
A CLARA oferece uma excelente qualidade de feixe em toda a gama de correntes de feixe e com um desempenho de imagem de primeira classe e um contraste excecional a baixas energias.
– Caracterização intransigente de todos os tipos de materiais à nanoescala.
– Ideal para caracterização de materiais a baixas energias de feixe para máxima topografia de superfície.
– Excelente imagem de amostras sensíveis ao feixe e não condutoras.
Configuração do feixe de eletrões totalmente automatizada: as condições de imagem ideais são garantidas pela tecnologia exclusiva In-Flight Beam Tracing™.
Principais características:
– BrightBeam™ – nova coluna SEM equipada com lente objetiva eletrostática-magnética e design de 70° para máxima versatilidade
– Imagens de campo livre de resolução ultra-elevada resultando na máxima versatilidade na digitalização, geração de imagens e análise, incluindo análise de amostras magnéticas e digitalização simultânea de imagens SEM durante operações FIB.
Nova plataforma de software TESCAN Essence.
O novo Essence™ torna a digitalização de imagens mais fácil do que nunca.
Principais benefícios:
·Interface de utilizador simplificada com acesso rápido às principais funções
·Interface de utilizador simplificada com acesso rápido às principais funções
· Compatível com ambientes multiutilizador
· Máximo controlo nas aplicações
· Modelo de colisão 3D para uma melhor proteção durante o manuseamento de amostras
· O novo sistema de deteção inclui o detetor de feixe axial e o multidetetor que permitem recolher eletrões de acordo com o ângulo de emissão e a sua energia. Desta forma, tem total controlo sobre a sensibilidade ao digitalizar a superfície da amostra, sendo também possível explorar com diferentes contrastes, permitindo obter mais informação sobre as amostras em estudo.
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